JEOL - JSM-5600 Microscope électronique à balayage (SEM) - 1998

Microscope électronique à balayage (SEM) JEOL JSM-5600 fabriqué au Japon. Équipement de laboratoire pour l’analyse de surface et la caractérisation des matériaux. Équipé du détecteur EDS Oxford Instruments modèle 6587 (ATW2), résolution déclarée de 138 eV à 5,9 keV, d’un système d’analyse élémentaire aux rayons X, d’une chambre d’échantillonnage inclinable et d’un système à vide. Il comprend une colonne électronique, une table antivibration, un détecteur EDS Oxford Instruments et des composants visibles sur les photographies. Condition visuellement complète. Il est conseillé de vérifier le fonctionnement du système à vide, du canon électronique, de l’électronique de contrôle et du logiciel avant la commercialisation.